林赛斯LSR-3热电参数测量系统是一款高度灵活的模块化平台，专为材料热电性能（塞贝克系数与电导率）表征而设计。其温度范围覆盖-100°C至1500°C，支持多种样品形态。系统可通过哈曼法等选配升级为LSR-4，实现ZT值及热电模块性能的直接测量，是热电材料研发与优化的强大工具。

林赛斯HCS 霍尔效应测量仪 专为半导体材料电学性能表征而设计，可精确测定霍尔常数、电阻率，并计算载流子浓度与迁移率。系统支持从-196°C至600°C的宽广温度范围，并提供永磁体（±0.7T）或电磁体（±1T）配置，以满足不同精度需求。其模块化设计与气密测量室，确保在真空或多种气氛下实现对SiC、GaN等材料的灵活、高精度分析。

林赛斯TFA L59 薄膜分析仪，是一个高度集成的测量平台。其独特的预结构化芯片设计，支持对通过多种方法制备的5nm至25μm薄膜，在单次测量中（-160°C至280°C）即可同时、同向获取面内导热系数、电导率及塞贝克系数等关键参数，极大简化了半导体、陶瓷等薄膜材料的研发表征流程。

林赛斯TEG-Tester是一款专为热电器件与珀尔帖元件设计的综合性能测试系统。它能精确施加温度梯度或外部电流，实时采样电压与电流以追踪最大功率点，快速评估转换效率与制冷/产热性能，支持多种运行模式和自动机械加载，是热电器件研发与质量控制的理想工具。

林赛斯LSR-1塞贝克系数/电阻测试仪 是一款结构紧凑、高度自动化的台式分析仪，专为材料塞贝克系数与电阻率的精确同步测量而设计。其基础测量范围覆盖-160°C至600°C，可通过低温、光照等模块灵活扩展，并支持真空及多种气氛环境，是研发各类块体与薄膜热电材料的理想工具。

林赛斯LSR-3 塞贝克系数/电阻测试仪是一款高度灵活的模块化平台，专为材料热电性能（塞贝克系数与电导率）表征而设计。其温度范围覆盖-100°C至1500°C，支持多种样品形态。系统可通过哈曼法等选配升级为LSR-4，实现ZT值及热电模块性能的直接测量，是热电材料研发与优化的强大工具。