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林赛斯TFA L59 薄膜分析仪,是一个高度集成的测量平台。其独特的预结构化芯片设计,支持对通过多种方法制备的5nm至25μm薄膜,在单次测量中(-160°C至280°C)即可同时、同向获取面内导热系数、电导率及塞贝克系数等关键参数,极大简化了半导体、陶瓷等薄膜材料的研发表征流程。
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