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产品中心热电电磁测试仪LSR-塞贝克/电阻测试仪LSR-1 (LSR L32)塞贝克系数/电阻测试仪
产品简介：林赛斯LSR-1塞贝克系数/电阻测试仪 是一款结构紧凑、高度自动化的台式分析仪，专为材料塞贝克系数与电阻率的精确同步测量而设计。其基础测量范围覆盖-160°C至600°C，可通过低温、光照等模块灵活扩展，并支持真空及多种气氛环境，是研发各类块体与薄膜热电材料的理想工具。
产品型号：LSR-1 (LSR L32)
更新时间：2026-02-06
厂商性质：生产厂家
访问量：56
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基础版本LSR-1（LSR L32）塞贝克系数/电阻测试仪 在室温至 200 °C 范围内可以与各种选配件结合使用，以扩展其应用范围。例如，低温配件，支持通过液氮冷却实现低至 -160 °C 的全自动测量，可快速冷却至 80 K（电阻测量）。可选的高温探头可将电阻测量扩展至 600 °C ，光照配件则支持在三波长 LED 光源下进行特定光照条件下的热电测量。LSR-1（LSR L32）系统采用范德堡法（电阻测量）、静态直流法和斜率塞贝克系数测量技术，适用于金属和半导体样品的表征。
塞贝克系数/电阻测试仪 其紧凑的台式设计支持全自动和软件控制操作，基于 Windows 的综合软件提供直观的用户界面，包括测量配置向导、数据可靠性反馈以及集成的数据评估与存储功能。真空密闭测量室与气体计量系统相结合，确保满足广泛的应用需求，便于高精度热电材料的研究。
独特功能
模块化系统设计：支持通过气体吹扫系统、光照和低温配件进行功能扩展。
真空密闭测量室：可在惰性、还原性、氧化性或真空等特定气氛下进行精确测量。
便捷可更换样品支架：集成主加热和辅助加热功能，确保高效温控。
同步测量能力：可同时测量塞贝克系数和电阻（电阻率），提升实验效率。
特殊接触机制：简化样品制备流程，确保测量结果的高重复性和可靠性
V-I 特性测量：以确定传感器与样品之间是否接触良好。
全自动软件控制：支持预定义温度和测量曲线的自动化操作，减少人为误差。
规格参数
| 类型 | LSR-1 (LSR L32) |
| 温度范围： | 基础单元：室温至 200 °C 低温配件：-160 °C 至 200 °C |
| 测量原理： | 塞贝克系数测量范围：0 至 2.5 mV/K，温度梯度可达 10 K 塞贝克电压测量范围：±8 mV |
| 气氛： | 惰性、还原性、氧化性、真空 推荐使用低压氦气以优化测量条件 |
| 样品支架： | 集成 PCB 板，配备主加热和辅助加热功能，确保均匀温控 |
| 样品尺寸（塞贝克系数测量）： | 长度：8 mm 至 25 mm 宽度：2 mm 至 25 mm 厚度：薄膜样品≤ 2 mm |
| 样品尺寸（电阻测量）： | 长度：18 mm 至 25 mm 宽度：18 mm 至 25 mm 厚度：薄膜样品 ≤ 2 mm |
| 真空泵： | 选配 |
| 加热速率： | 0.01 - 100 K/min，满足快速升温需求 |
| 温度精度： | ±1.5 °C 或 0.0040 · | t |，确保高精度温控 |
| 电阻测量范围： | 10 nOhm（nOhm = 10-9 Ohm），适用于低电阻材料 |
| 电压测量范围： | 0.5 nV/K（nV = 10-9 V），支持高灵敏度测量 |
应用
广泛应用于各种块体和薄膜形式的热电材料塞贝克系数和电阻的测量
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