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产品中心塞贝克/热电阻测定仪塞贝克系数LSR-3 (LSR L31)塞贝克系数/电阻测试仪
产品简介：塞贝克系数/电阻测试仪 LSR L31 可扩展应用：低温配件支持液氮自动冷却（-100°C）及薄膜样品测量；摄像头和高阻配件分别提升电导率精度与测量范围。完整ZT值需热导率数据，通常依赖外部设备（如LFA）。可集成LFA导热仪（LZT测量仪），或选配特殊适配器，采用哈曼法直接测量固体热导率，从而直接获得ZT值（结合塞贝克系数和电导率）。此集成哈曼法的升级系统称为LSR-4，价值显著。
产品型号：LSR-3 (LSR L31)
更新时间：2025-08-12
厂商性质：生产厂家
访问量：25487
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基础版 塞贝克系数/电阻测试仪 LSR-3（LSR L31）可通过多种可选配件功能扩展应用范围。例如，低温配件支持液氮冷却至 -100 °C 的全自动测量，并配备专用的薄膜适配器，用于测量薄膜及薄层样品。
可选摄像头功能可实现电导率的高精度测定，而高阻配件则显著扩展了测量范围，适用于低电导率样品的表征。
由于计算无量纲值 ZT 时，除塞贝克系数和电导率外，还需热导率数据，因此通常需借助其他设备（如激光闪射法导热仪 LFA）进行测定。为解决这一问题，林赛斯 塞贝克系数/电阻测试仪 可集成额外的激光闪射法导热仪（参见 LZT 测量仪），或采用特殊适配器，通过哈曼法直接测量固体材料的热导率。这是一种直接的ZT测定方法，结合原始的两项测量数据，可推导出热导率。集成哈曼法的 LSR 测量系统因其显著附加价值，被称为 LSR-4 。通过选配扩展测量电子设备，LSR-4 测量系统还可基于相同测量原理，利用阻抗光谱技术测定热电模块（TEG）的 ZT 值。
| 类型 | LSR-3 (LSR L31) | ||
| 温度范围： | 红外炉体：室温至 800 °C / 1100 °C 电阻炉体：室温至 1500 °C 低温炉体：-100 °C 至 500 °C | 水冷系统： | 必选 |
| 测量方法： | 塞贝克系数：静态直流法 / 斜率法 电阻率：四探针法 | 塞贝克系数 测量范围： | 1 µV/K 至 5000 µV/K（静态直流法） |
| 气氛： | 惰性、还原性、氧化性、真空 推荐使用低压氦气 | 电导率测量范围： | 0.01 至 2 × 105 S/cm |
| 样品夹具： | 垂直夹持，位于两电极之间 可选适配器，适用于薄膜和薄层样品 | 电流： | 低漂移电流，0 至 160 mA（可选 220 mA） |
样品尺寸： (塞贝克系数测量) | 底面积：2 至 5 mm2 最大长度：23 mm 最大直径：6 mm | 电极材料： | 镍电极（-100 °C 至 500 °C） 铂电极（-100 °C 至 1500 °C） |
| 圆盘形样品尺寸： | 直径：10 mm、12.7 mm、25.4 mm | 热电偶类型： | K 型、S 型、C 型 |
| 热电偶测量间距： | 4 mm、6 mm、8 mm |
| 附加模块 | LSR-4 升级版 |
| 直流哈曼法： | 直接测量热电元件的 ZT 值 |
| 交流阻抗光谱法： | 直接测量热电模块（TEG / Peltier 模块）的 ZT 值 |
| 温度范围： | -100 °C 至 400 °C 室温至 400 °C |
| 样品支架： | 针式接触，确保绝热测量条件 |
| 样品尺寸： | 矩形样品：底边 2 至 5 mm ，最大长度 23 mm 圆柱形样品：最大直径 6 mm ，最大长度 23 mm 模块尺寸：最大 50 mm × 50 mm |
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