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热电电磁测试仪
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林赛斯HCS 霍尔效应测量仪 专为半导体材料电学性能表征而设计,可精确测定霍尔常数、电阻率,并计算载流子浓度与迁移率。系统支持从-196°C至600°C的宽广温度范围,并提供永磁体(±0.7T)或电磁体(±1T)配置,以满足不同精度需求。其模块化设计与气密测量室,确保在真空或多种气氛下实现对SiC、GaN等材料的灵活、高精度分析。
林赛斯(上海)科学仪器有限公司
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