林赛斯 LFA L52 型激光闪射分析仪是一种测量导热系数、热扩散系数和比热容的有效方法，可同时测量多达三个、六个或十八个样品。多种不同的加热炉使得测量温度范围可从 -125 ℃ 到 2800 ℃。

材料热阻导热测试仪 专为精确测量热界面材料（导热膏、垫片、胶等）的热阻、接触热阻及导热系数而设计。方法符合ASTM D5470标准，测量温度高达300°C，接触压力可达16MPa。其操作简便、结果可靠，是解决电子电器、电池及通信设备散热问题的理想测试工具。

热反射法薄膜导热仪 TF-LFA L54采用频域热反射（FDTR）非接触技术，专为精确表征纳米至微米级薄膜材料的热物性（导热系数、热扩散系数等）而设计。尤其适用于半导体、热电、LED等领域的功能性薄膜。技术优良，无需样品热容和密度已知，即可实现对薄膜及界面热阻的完整评估。

新型林赛斯 薄膜综合物性分析仪 TFA L59，是一款高度集成、易于操作的薄膜物性测量平台。它采用独特预结构化芯片，支持多种沉积方法，可在单次测量中同时精确获得薄膜的导热系数、塞贝克系数、电阻率等多种关键物理参数，温度范围覆盖-160°C至280°C，是半导体、陶瓷及有机材料薄膜研发的工具。

林赛斯 导热系数/塞贝克系数联测仪 LZT-Meter（LZT L33）将激光闪射法（LFA）测热导率与静态直流法测塞贝克系数/电阻率集于一体。仅需一个圆盘样品，即可在一次测试中完成热电优值（ZT值）的全参数表征。集成化设计覆盖-100℃至1100℃温区，可选配多种炉体，在节省空间与成本的同时，确保高精度与高可靠性，是热电材料研发的理想解决方案。

瞬态热桥法导热仪 THB L56采用瞬态热桥法，仅需几分钟即可一次性准确测量材料的导热系数、热扩散系数与比热容。支持固体、液体、膏体等多种样品，操作简便，符合多项国际标准。其模块化设计及多种传感器可选，满足从科研到质检的广泛应用需求，是材料热物性分析的理想工具。