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产品中心导热仪LZT-导热/塞贝克联测仪LZT-Meter (LZT L33)导热系数/塞贝克系数联测仪
产品简介：林赛斯 导热系数/塞贝克系数联测仪 LZT-Meter（LZT L33）将激光闪射法（LFA）测热导率与静态直流法测塞贝克系数/电阻率集于一体。仅需一个圆盘样品，即可在一次测试中完成热电优值（ZT值）的全参数表征。集成化设计覆盖-100℃至1100℃温区，可选配多种炉体，在节省空间与成本的同时，确保高精度与高可靠性，是热电材料研发的理想解决方案。
产品型号：LZT-Meter (LZT L33)
更新时间：2026-02-05
厂商性质：生产厂家
访问量：15373
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林赛斯 导热系数/塞贝克系数联测仪 LZT-Meter（LZT L33）可以通过在单个设备中组合激光导热仪和塞贝克系数测量仪来确定热电优值（ZT值）的商用仪器。因此，该测量设备既可以通过使用激光闪射法独立测定导热系数，也能够通过 LSR 测量系统测量电阻率和塞贝克系数。
其优势显而易见：导热系数/塞贝克系数联测仪 这种集成式设计既能节省昂贵的实验室空间，又能节省因配备双炉体、测量电子设备和其他设备而产生的不必要费用。因此，对于那些重点不在于高样品处理量，而在于测量质量和成本效益的研发应用来说，LZT L33 测量仪是理想的解决方案。因为对于样品的完整热电优值（ZT）特性表征而言，仅需一个圆盘形状的样品就足够了。
该设备还可选配三种不同的加热炉：一种新型红外炉（用于在非常高和极低的加热速率下进行精确的温度控制）以及低温炉和高温炉。
| 类型 | LZT-Meter (LZT L33) | ||
| 温度范围： | 红外加热炉：RT - 800°C / 1100°C 低温炉：-100°C - 500°C | 导热 | |
| 测试方法： | 塞贝克系数：静态直流法/斜率法 电阻：四端法 | 脉冲源： | Nd：YAG 激光器（25 J/pulse） |
| 测量原理： | 基于芯片构造 (预结构化的测量芯片，每盒 24 个) | 脉冲宽度： | 0.01 - 5 ms |
| 气氛： | 惰性、还原性、氧化性、真空环境 氦气：建议使用低压氦气 | 探测器： | InSb / MCT |
| 样品支架： | 在两个电极之间垂直夹紧 用于箔和薄膜的可选适配器 | 导热系数： | 0.01 - 1000 mm2/s |
样品尺寸： (圆柱体或矩形) | 2-5 mm (边长/直径) x 6-23 mm (高) | 插件： | LSR-4 升级 |
样品尺寸： (圆盘形状) | 10、12.7、25.4 mm | 直流哈曼法： | 在热电腿上直接测量 ZT |
| 热电偶测量距离： | 4、6、8 mm | 交流阻抗谱： | 在热电模块（TEG/Peltier 模块）上直接测量 ZT |
| 冷却水： | 需要 | 温度范围： | -100 - 400 °C RT - 400 C °C |
| 塞贝克系数 ： | 1 μV/K - 250 mV/K（静态直流法） | 样品架： | 用于绝热测量条件的针式触点 |
| 电导率： | 0.01 - 2×105 S/cm | 样品尺寸： | 2 - 5 mm (边长/直径) x 6 - 23 mm (高) 模块尺寸为 50 x 50 mm |
| 电源： | 0 至 160 mA 的低漂移电流源 | ||
| 电极材料： | 镍（-100 至 500 °C） 铂（-100 至 1500 °C） | ||
| 热电偶： | 型号 K / S / C | ||
应用
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