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当前位置:首页产品中心导热仪TLF-热反射法薄膜导热仪
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热反射法薄膜导热仪 TF-LFA L54采用频域热反射(FDTR)非接触技术,专为精确表征纳米至微米级薄膜材料的热物性(导热系数、热扩散系数等)而设计。尤其适用于半导体、热电、LED等领域的功能性薄膜。技术优良,无需样品热容和密度已知,即可实现对薄膜及界面热阻的完整评估。
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