产品概述
品牌 | LINSEIS/林赛斯 | 价格区间 | 面议 |
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仪器种类 | 瞬态平面热源法 | 产地类别 | 进口 |
应用领域 | 综合 |
林赛斯 薄膜综合物性分析仪 TFA主要特点:
高效便捷的薄膜材料表征手段(nm到um薄膜测试)
不同温度下的测量(-170 to 200℃<-可选300℃>)
样品易于制备和处理
高的测量适应性 (样品厚度,电阻率,沉积方式)
一个样品,一次同步测量即可获得所有相关参数
适用于金属、陶瓷及有机材料
●基本测量单元:
测量室,真空泵,带加热器的支架,电子颊侧装置,集成锁相放大器,3w方法分析软件,计算机和应用软件。可测以下物理参数:
l - 热传导系数(稳态法/平面内方向)
r - 电阻率
s - 电导率
S - 赛贝克系数
e – 发射率
cp - 比热容
●磁测量单元:
林赛斯 薄膜综合物性分析仪 TFA可根据需求选择集成式电磁铁,可测物理参数如下:
AH - 霍尔常数
μ - 迁移率
n - 载流子浓度
薄膜材料性能有别于块体材料之处
-因小尺寸和高纵横比所导致的表面效应如:边界散射和量子限域效应
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