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产品简介：薄膜热物性系统主要特点： 高效便捷的薄膜材料表征手段（nm到um薄膜测试）。不同温度下的测量（-170 to 200℃<-可选300℃>）样品易于制备和处理高的测量适应性 （样品厚度，电阻率，沉积方式）一个样品，一次同步测量即可获得所有相关参数。适用于金属、陶瓷及有机材料。
产品型号：
更新时间：2025-01-17
厂商性质：生产厂家
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薄膜热物性基本测量单元 ：
测量室，真空泵，带加热器的支架，电子颊侧装置，集成锁相放大器，3w方法分析软件，计算机和应用软件。可测以下物理参数：
l -热传导系数 (稳态法/平面内方向)
r - 电阻率
s - 电导率
S - 赛贝克系数
e – 发射率
cp - 比热容
磁测量单元
可根据需求选择集成式电磁铁，可测物理参数如下：
AH - 霍尔常数
μ –迁移率
n -载流子浓度
薄膜材料性能有别于块体材料之处
- 因小尺寸和高纵横比所导致的表面效应如：边界散射和量子限域效应
薄膜热物性系统主要特点：
高效便捷的薄膜材料表征手段（nm到um薄膜测试）。
不同温度下的测量（-170 to 200℃<-可选300℃>）
样品易于制备和处理
高的测量适应性 （样品厚度，电阻率，沉积方式）
一个样品，一次同步测量即可获得所有相关参数。
适用于金属、陶瓷及有机材料。
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