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同步测得薄膜热物性和热电性能参数?林赛斯的TFA为您实现!

点击次数:1907  发布时间:2017-07-19

样品几何尺寸、物质组分、热分布不均等等的影响导致的一些结果误差,是否让您在测量薄膜的热分析参数时头疼不已?

在此林赛斯的薄膜综合物性分析仪(TFA)给您提供了的解决方案。导热系数、电阻率、电导率、塞贝克效应,薄膜的霍尔效应等一次测得,不受其他因素影响,结果可靠。

TFA采用芯片设计,样品与传感器紧密接触,构成一个缩小的热带法导热测试模型;还可配置锁相放大器等控制设备,以使用3ω方法,对样品的in-plane和Cross-plane导热进行测量。

同时TFA可以测量不同材质的样品,金属、陶瓷、半导体等无机薄膜或者有机薄膜。

林赛斯还为广大科研工作者提供三个可选模块,根据需要添加:

1、瞬态导热测量模块,使用锁相放大器,配置3ω测量单元,可以测量平面和交叉面导热系数,比热等;

2、霍尔效应测量模块,配置磁场单元,可以测量霍尔电压、迁移率和载流子浓度。

3、低温附件,包括液氮控制器,杜瓦罐等。加装低温附件后,使用温度可扩展至-150℃-400℃。样品架两侧均安装有LN2管道,有利于样品两侧的温度控制。

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