技术文章
当前位置:首页
技术文章
19
样品几何尺寸、物质组分、热分布不均等等的影响导致的一些结果误差,是否让您在测量薄膜的热分析参数时头疼不已?在此林赛斯的薄膜综合物性分析仪(TFA)给您提供了的解决方案。导热系数、电阻率、电导率、塞贝克效应,薄膜的霍尔效应等一次测得,不受其他因素影响,结果可靠。TFA采用芯片设计,样品与传感器紧密接触,构成一个缩小的热带法导热测试模型;还可配置锁相放大器等控制设备,以使用3ω方法,对样品的in-plane和Cross-plane导热进行测量。同时TFA可以测量不同材质的样品,金...
查看更多8
塞贝克系数测定仪可用于测量某些材料的塞贝克系数(热电系数);塞贝克系数测定仪是根据地质、矿业、物探、半导体科研院所的需求而设计的新型自动化数字化热电系数测量仪,用于测量具有类似半导体特性的各种矿物,如黄铁矿等及一般半导体材料的热电系数。在某些矿物和半导体材料的研究中测取热电系数具有重要的用途和意义。塞贝克系数测定仪适合于矿业、地质、物探、半导体等有关科研院所和高等学校使用。适合于测量直径在0.1~1.0mm之间的微小晶体的热电系数和导型。塞贝克系数测定仪主要由以下几部分构成:...
查看更多15
Nearlypure-aluminasamplesproducedbyuniaxialpressingwereflashsinteredunderelectricalfieldsrangingfrom500V/cmto1500V/cminexperimentsatconstantheatingrate.Sinteringtemperaturesig-nificantlydecreasedwiththeappliedE-fieldevendownto≈900?Cat1500V/...
查看更多12
Strontiumaluminateceramics,includingSr3Al2O6,SrAl2O4andSr4Al14O25,synthesizedbyglycine–nitratecombustionandsinteredat1773Kinair,werecharacterizedbythermalanalysis,dilatometryandelectricalmeasurementsincontrolledatmospheres.Allstudiedstronti...
查看更多26