薄膜导热测试仪利用微/纳米薄膜材料导热引起加热器电信号的变化来检测其热导率。主要应用范围为微/纳米薄膜材料的热导率测量，可广泛应用于辅助各种功能薄膜材料的研究与开发，其涵盖范围包括高等院校及科研院所、集成电路散热材料、航空航天材料、热电材料与器件、信息存储与光电器件。
 

　　薄膜导热测试仪可用于多种不同类型和几何尺寸材料的热导率、热扩散系数和比热容的测量。测试仪可以在几分钟的时间测量出材料的三种性能，不同的传感器可以简单替换以适应实验室和现场使用。测试仪可实现全自动工作。为了缩短测试时间和减小误差，其软件控制做了独立的优化。
 

　　薄膜导热测试仪的优点：
 

　　1.可测量薄膜材料的热导率，尤其是微/纳米薄膜材料热导率的高性能测量；
 

　　2.不直接测量温度变化，而是通过测量材料在导热过程中温度的变化转换为的电信号的变化来实现微/纳米薄膜材料的热导率，微伏级电压值，保证测量结果的高精确度；
 

　　3.采用交流电加热方式，同时选择并优化设计加热电极的形状与尺寸，可保证加热均匀性及测试
 

　　4.应用的广泛性、准确性与稳定性；
 

　　5.待测薄膜样品材料尺寸极小，能有效减小黑体辐射引起的测量误差；
 

　　6.可在真空及温度可控环境下测试，有效避免因环境温度变化和空气热传导而引起的测量误差；友好的软件界面。