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霍尔效应测量系统的测试流程

点击次数:255  发布时间:2022-12-01
霍尔效应测量系统是一种用于材料科学、信息科学与系统科学领域的仪器,主要用于研究光电材料的电学特性,可以测量材料在不同温度、磁场下的载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数及载流子类型。
 
测试流程:
 
1、接通电源,打开电脑。
2、调整仪器,放置准备好的样品。
3、抽真空。
4、设置参数。
5、加液氮至所需温度条件。
6、测量,读取结果,保存。
7、断开电源,关闭电脑。
8、待样品冷却至常温在大气压下取样。
 
霍尔效应测量系统 L79/HCS可用于半导体组件性能表征,包括:迁移率,电阻率,载流子浓度和霍尔常数。
 
特点:
 
• 载流子浓度
• 电阻率
• 迁移率
• 电导率
• α (水平电阻值/垂直电阻值)
• 霍尔常数
• 磁致电阻
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