霍尔效应测量系统的测试流程
点击次数：768 更新时间：2022-12-01
霍尔效应测量系统是一种用于材料科学、信息科学与系统科学领域的仪器，主要用于研究光电材料的电学特性，可以测量材料在不同温度、磁场下的载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数及载流子类型。
测试流程：
1、接通电源，打开电脑。
2、调整仪器，放置准备好的样品。
3、抽真空。
4、设置参数。
5、加液氮至所需温度条件。
6、测量，读取结果，保存。
7、断开电源，关闭电脑。
8、待样品冷却至常温在大气压下取样。
霍尔效应测量系统 L79/HCS可用于半导体组件性能表征，包括:迁移率，电阻率，载流子浓度和霍尔常数。
特点：
• 载流子浓度
• 电阻率
• 迁移率
• 电导率
• α (水平电阻值/垂直电阻值)
• 霍尔常数
• 磁致电阻